Отображение результатов 118 до 137 из 167
< назад
дальше >
Дата публикации | Название | Авторы |
2017 | Нанодиагностика соединительной ткани с помощью методики PF QNM на атомном силовом микроскопе | Фролова, А. А.; Акованцева, А. А.; Тимашев, П. С.; Frolova, A. A.; Akovantseva, A. A.; Timashev, P. S. |
2017 | Начальная стадия роста Ge на поверхности Au(111) | Путилов, А. В.; Музыченко, Д. А.; Орешкин, А. И.; Орешкин, С. И.; Уставщиков, С. С.; Аладышкин, А. Ю.; Putilov, A. V.; Muzychenko, D. A.; Oreshkin, A. I.; Oreshkin, S. I.; Ustavshikov, S. S.; Aladyshkin, A. Yu. |
2017 | Новые возможности атомно-силовой микроскопии от Nanosurf | Шуравин, A. С.; Shuravin, A. S. |
2017 | Определение модуля упругости и силы адгезии материалов методом атомно-силовой микроскопии с применением модифицированных зондов | Мельникова, Г. Б.; Маханек, А. А.; Петровская, А. С.; Константинова, Е. Э.; Чижик, С. А.; Melnikova, G. B.; Makhanek, A. A.; Petrovskaya, A. S.; Кonstantinova, E. E.; Chizhik, S. A. |
2017 | Определение размера ферритных наночастиц внутри полимерной матрицы | Жакина, A. Х.; Aмирханова, A. K.; Арнт, О. В.; Василец, E. П.; Zhakina, A. Kh.; Amirkhanova, A. K.; Arnt, О. V.; Vassilets, E. P. |
2017 | Определение эффективности иммобилизации глюкозооксидазы на полупроводниковый трансдьюсер методами сканирующей зондовой микроскопии | Козловский, A. В.; Стецюра, С. В.; Kozlowski, A. V.; Stetsyura, S. V. |
2017 | Оптомеханическое связывание в системе «АСМ кантилевер – полупроводниковый лазер» | Алексеев, П. A.; Шаров, В. А.; Дунаевский, М. С.; Alekseev, P. A.; Sharov, V. A.; Dunaevskii, M. S. |
2017 | Особенности реакции живых клеток на внешние воздействия, зарегистрированные в квазистатическом режиме атомно-силовой микроскопии | Халисов, М. М.; Анкудинов, А. В.; Khalisov, M. M.; Ankudinov, A. V. |
2017 | Особенности свойств бессвинцового сегнетокерамического материала ТБК-3 в области фазового перехода | Скрылѐв, А.В.; Акбаева, Г. М.; Панич, А. А.; Бурханов, А. И.; Диков, Р. В.; Карюков, Е. В.; Skrylev, A. V.; Akbaeva, G. M.; Panich, A. A.; Burkhanov, A. I.; Dikov, R. V.; Karyukov, E. V. |
2017 | Особенности структурообразования поверхности полимерных мембран на основе хитозана по данным атомно-силовой микроскопии | Сазанова, Т. С.; Отвагина, К. В.; Воротынцев, И. В.; Sazanova, T. S.; Otvagina, K. V.; Vorotyntsev, I. V. |
2017 | Оценка микрорельефа поверхности кремнийхитозансодержащих глицерогидрогелей методом атомно-силовой микроскопии | Журавлева, Ю. Ю.; Малинкина, О. Н.; Шиповская, А. Б.; Браташов, Д. Н.; Zhuravleva, Yu. Yu.; Malinkina, O. N.; Shipovskaya, A. B.; Bratashov, D. N. |
2017 | Пиннинг уровня Ферми на (110) поверхности III-As полупроводников | Алексеев, П. А.; Дунаевский, М. С.; Берковиц, В. Л.; Alekseev, P. A.; Dunaevskii, M. S.; Berkovits, V. L. |
2017 | Поверхностный электрический потенциал, внутреннее электрическое поле смещения, пиро-и пьезо- эффекты в неполяризованной пьзокерамике со стационарным градиентом деформации в приэлектродных cлоях | Захаров, Ю. Н.; Филатова, Н. С.; Бунин, М. А.; Чебаненко, В. А.; Паринов, И. А.; Павленко, А. В.; Рожков, Е. В.; Родинин, Е. С.; Раевский, И. П.; Zakharov, Yu. N.; Filatova, N. S.; Bunin, M. A.; Chebanenko, V. A.; Parinov, I. A.; Pavlenko, A. V.; Rozhkov, E. V.; Rodinin, E. S.; Raevski, I. P. |
2017 | Получение и контроль люминесцентных микрообластей с помощью Ntegra Spectra | Стецюра, С. В.; Браташов, Д. Н.; Stetsyura, S. V.; Bratashov, D. N. |
2017 | Последние разработки Oxford Instruments Asylum Research и Anasys Instruments в области АСМ и родственных методов | Неудачина, В. С.; Neudachina, V. S. |
2017 | Преподавание курсов по зондовой микроскопии: новые возможности | Логинов, Б. А.; Loginov, B. A. |
2017 | Применение АСМ для исследования шероховатости элементов изображающей оптики | Зорина, М. В.; Пестов, А. Е.; Чхало, Н .И.; Zorina, M. V.; Pestov, A. E.; Chkhalo, N. I. |
2017 | Применение методов СЗМ для изучения возможных пьезоэлектрических свойств мелкодисперсных фаз ЦТС | Куприна, Ю. А.; Бунин, М. А.; Бунина, О. А.; Kuprina, Yu. A.; Bunin, M. A.; Bunina, O. A. |
2017 | Применение сканирующей зондовой микроскопии для определения кристаллографической ориентации зерен в поляризованном свете | Воронин, С. В.; Чаплыгин, К. К.; Бараев, Д. И.; Voronin, S. V.; Chaplygin, K. K.; Baraev, D. I. |
2017 | Применение фокусированных ионных пучков для формирования АСМ-зондов | Коломийцев, A. С.; Лисицын, С. А.; Федотов, А. А.; Kolomiytsev, A. S.; Lisitsyn, S. A.; Fedotov, A. A. |