Оценка микрорельефа поверхности кремнийхитозансодержащих глицерогидрогелей методом атомно-силовой микроскопии

Abstract

Методом атомно-силовой микроскопии проведены оценки микрорельефа поверхности кремнийхитозансодержащих глицерогидрогелей, полученных по золь-гель технологии. Все синтезированные образцы характеризуются сложным поверхностным рельефом с дефектами в виде впадин неправильной или сферической формы и выступов различной высоты и диаметра. Обнаружено влияние молекулярной массы и концентрации хитозана на масштаб шероховатости поверхности материала.

The method of atomic force microscopy was used to estimate the microrelief of the surface of silicon-chitosan-containing glycerogyrogels obtained by sol-gel technology. All synthesized samples are characterized by a complex surface relief with defects in the form of depressions of irregular or spherical shape and protrusions of various heights and diameters. The influence of the molecular weight and the concentration of chitosan on the scale of the surface roughness of the material was found.