Scanning Probe Microscopy : [574] Collection home page

Logo
Коллекция содержит материалы международной конференции "Scanning Probe Microscopy", российско-китайского воркшопа "Dielectric and Ferroelectric Materials" и международной молодежной конференции "Functional Imaging of nanomaterials".

Browse
Subscribe to this collection to receive daily e-mail notification of new additions RSS Feed RSS Feed RSS Feed
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 20 of 574
Submit DateTitleAuthor(s)
20-Sep-2021Применение фокусированных ионных пучков для формирования АСМ-зондовКоломийцев, A. С.; Лисицын, С. А.; Федотов, А. А.; Kolomiytsev, A. S.; Lisitsyn, S. A.; Fedotov, A. A.
20-Sep-2021Исследование коэффициента жесткости и собственных частот микрокантилеверов для колебательных методик АСМЖитяева, Ю. Ю.; Быков, А. В.; Jityaeva, J. Y.; Bykov, A. V.
20-Sep-2021Локальная проводимость поверхности (0001) топологических изоляторов на основе Bi2Te3Кункель, Т. С.; Лукьянова, Л. Н.; Анкудинов, A. В.; Усов, О. А.; Kunkel, T. S.; Lukyanova, L. N.; Ankudinov, A. V.; Usov, O. A.
20-Sep-2021Растровая электронная микроскопия в строительном материаловеденииФедюк, Р. С.; Смоляков, А. К.; Тимохин, Р. А.; Fediuk, R. S.; Smoliakov, А. К.; Тimokhin, R. А.
20-Sep-2021Генерация электрических колебаний в контакте АСМ зонда с индивидуальной наночастицей Au в плѐнке SiO2/SiФилатов, Д. О.; Горшков, О. Н.; Антонов, Д. А.; Шенина, М. Е.; Синуткин, Д. Ю.; Зенкевич, А. В.; Матвеев, Ю. А.; Filatov, D. O.; Gorshkov, O. N.; Antonov, D. A.; Shenina, M. E.; Sinutkin, D. Yu.; Zenkevich, A. V.; Matveev, Yu. A.
20-Sep-2021Пиннинг уровня Ферми на (110) поверхности III-As полупроводниковАлексеев, П. А.; Дунаевский, М. С.; Берковиц, В. Л.; Alekseev, P. A.; Dunaevskii, M. S.; Berkovits, V. L.
20-Sep-2021Зондовый метод для картирования интенсивности и спектра излучения полупроводниковых лазерных структурДунаевский, М. С.; Алексеев, П. А.; Монахов, А. М.; Baranov, A.; Teissier, R.; Dunaevskiy, M. S.; Alekseev, P. A.; Monakhov, A. M.; Baranov, A.; Teissier, R.
20-Sep-2021Исследование с помощью атомно-силовой микроскопии структуры титана ВТ1-0, разрушенного при многоцикловой усталости после электронно-пучковой обработкиОсинцев, К. А.; Комиссарова, И. А.; Коновалов, С. В.; Иванов, Ю. Ф.; Osintsev, K. A.; Komissarova, I. A.; Konovalov, S. V.; Ivanov, Yu. F.
20-Sep-2021An approach to Young’s modulus determination for atomic-force microscope with interferometric cantilever-deflection systemAndreeva, N. V.
20-Sep-2021Микро- и наноструктуры фрактального типа и их влияние на практически значимые свойства кристаллических и керамических материалов на основе оксидных соединений ниобия и танталаПалатников, М. Н.; Сидоров, Н. В.; Щербина, О. Б.; Palatnikov, M. N.; Sidorov, N. V.; Scherbina, O. B.
20-Sep-2021Топография поверхности прекурсоров Cu-Zn-Sn послойно электрохимически осажденных на подложки Мo/стекло и Мо-фольгаТуровец, А. И.; Барайшук, С. М.; Станчик, А. В.; Гременок, В. Ф.; Башкиров, С. А.; Turovets, A. I.; Baraishuk, S. M.; Stanchik, A. V.; Gremenok, V. F.; Bashkirov, S. A.
20-Sep-2021Морфологический фактор наносостояния дисперсных частиц конденсированных средАвдейчик, С. В.; Антонов, А. С.; Струк, В. А.; Воронцов, А. С.; Avdeychik, S. V.; Antonov, A. S.; Struk, V. A.; Vorontsov, A. S.
20-Sep-2021Фазовая структура смесевых композитов, полученных совмещением термопластичных компонентовАнтонов, А. С.; Авдейчик, С. В.; Струк, В. А.; Antonov, A. S.; Avdeychik, S. V.; Struk, V. A.
20-Sep-2021Polarization switching and piezoresponse in PVDF/P(VDF-TrFE) ferroelectric films and multifunctional G/GO compositesBystrov, V. S.; Paramonova, E. V.; Avakyan, L. A.; Meng, X. J.; Tian, B. B.; Bdikin, I. K.; Silibin, M. V.
20-Sep-2021Изменение трибологических свойств поверхности нанокристаллических пленок Al–Si–N после воздействия отжигаКузнецова, Т. А.; Лапицкая, В. А.; Зубарь, Т. И.; Чижик, С. А.; Углов, В. В.; Квасов, Н. Т.; Шиманский, В. И.; Kuznetsova, T. A.; Lapitskaya, V. A.; Zubar, T. I.; Chizhik, S. A.; Uglov, V. V.; Kvasov, N. T.; Shymanski, V. I.
20-Sep-2021Исследование автоэмиссионных наноструктур на основе пленок графена на SiC с использованием сканирующей зондовой микроскопииЖитяев, И. Л.; Светличный, А. М.; Агеев, О. А.; Jityaev, I. L.; Svetlichnyi, A. M.; Ageev, O. A.
20-Sep-2021Морфология и смачиваемость поверхности сплава АМг2М, модифицированного осаждением Мo в условиях ионного ассистированияБобрович, О. Г.; Барайшук, С. М.; Туровец, А. И.; Bobrovich, O.; Baraishuk, S.; Turovets, A.
20-Sep-2021Antiferroelectrics for energy storage application-perspectives for processing and characterizationZhang, Y.; Chen, Y. Z.; Song, X. Z.
20-Sep-2021АСМ-анализ поверхности гетерогенных анионообменных мембран после электродиализа природных водАкберова, Э. М.; Яцев, А. М.; Малыхин, М. Д.; Васильева, В. И.
20-Sep-2021Измерение микротвердости методом атомно-силовой микроскопииЗайцев, А. А.; Осипова, Н. А.; Вахрамеев, П. С.; Zaitsev, A. A.; Osipova, N. A.; Vakhrameev, P. S.
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 20 of 574