ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104197| Название: | Исследование автоэмиссионных наноструктур на основе пленок графена на SiC с использованием сканирующей зондовой микроскопии |
| Другие названия: | Study of field emission nanostructures based on graphene films on SiC using scanning probe microscopy |
| Авторы: | Житяев, И. Л. Светличный, А. М. Агеев, О. А. Jityaev, I. L. Svetlichnyi, A. M. Ageev, O. A. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Житяев И. Л. Исследование автоэмиссионных наноструктур на основе пленок графена на SiC с использованием сканирующей зондовой микроскопии / И. Л. Житяев, А. М. Светличный, О. А. Агеев // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 152-152 p. |
| Аннотация: | В работе исследованы морфология и электрические характеристики автоэмиссионных графен/SiC наноструктур с использованием методов СЗМ. Проведена оценка влияния геометрии графен/SiC наноструктур с учетом радиуса закругления вершины эмиттера и межэлектродного расстояния на автоэлектронную эмиссию. The morphology and electrical characteristics of field emission graphene/SiC nanostructures were investigated using SPM. The effect of design of graphene/SiC nanostructures on field emission was estimated taking into account the rounding-off radius of the emitting top and the interelectrode distance. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104197 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Сведения о поддержке: | Результаты работы были получены с использованием инфраструктуры Центра коллективного пользования и научно-образовательного центра «Нанотехнологии» Южного федерального университета. |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_088.pdf | 277,94 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.