ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elar.urfu.ru/handle/10995/104197Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Житяев, И. Л. | ru |
| dc.contributor.author | Светличный, А. М. | ru |
| dc.contributor.author | Агеев, О. А. | ru |
| dc.contributor.author | Jityaev, I. L. | en |
| dc.contributor.author | Svetlichnyi, A. M. | en |
| dc.contributor.author | Ageev, O. A. | en |
| dc.date.accessioned | 2021-09-20T13:51:43Z | - |
| dc.date.available | 2021-09-20T13:51:43Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Житяев И. Л. Исследование автоэмиссионных наноструктур на основе пленок графена на SiC с использованием сканирующей зондовой микроскопии / И. Л. Житяев, А. М. Светличный, О. А. Агеев // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 152-152 p. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-5-9500624-0-7 | - |
| dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104197 | - |
| dc.description.abstract | В работе исследованы морфология и электрические характеристики автоэмиссионных графен/SiC наноструктур с использованием методов СЗМ. Проведена оценка влияния геометрии графен/SiC наноструктур с учетом радиуса закругления вершины эмиттера и межэлектродного расстояния на автоэлектронную эмиссию. | ru |
| dc.description.abstract | The morphology and electrical characteristics of field emission graphene/SiC nanostructures were investigated using SPM. The effect of design of graphene/SiC nanostructures on field emission was estimated taking into account the rounding-off radius of the emitting top and the interelectrode distance. | en |
| dc.description.sponsorship | Результаты работы были получены с использованием инфраструктуры Центра коллективного пользования и научно-образовательного центра «Нанотехнологии» Южного федерального университета. | ru |
| dc.format.mimetype | application/pdf | en |
| dc.language.iso | ru | en |
| dc.publisher | Ural Federal University | en |
| dc.relation.ispartof | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 | ru |
| dc.title | Исследование автоэмиссионных наноструктур на основе пленок графена на SiC с использованием сканирующей зондовой микроскопии | ru |
| dc.title.alternative | Study of field emission nanostructures based on graphene films on SiC using scanning probe microscopy | en |
| dc.type | Conference Paper | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
| dc.conference.name | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" | en |
| dc.conference.date | 27.08.2017-30.08.2017 | - |
| local.description.firstpage | 152 | - |
| local.description.lastpage | 152 | - |
| local.description.order | P-25 | - |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_088.pdf | 277,94 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.