Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104202
Название: Исследование с помощью атомно-силовой микроскопии структуры титана ВТ1-0, разрушенного при многоцикловой усталости после электронно-пучковой обработки
Другие названия: AFM investigation of titanium VT1-0 structure destroyed during multicyclic fatigue after electron-beam treatment
Авторы: Осинцев, К. А.
Комиссарова, И. А.
Коновалов, С. В.
Иванов, Ю. Ф.
Osintsev, K. A.
Komissarova, I. A.
Konovalov, S. V.
Ivanov, Yu. F.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Исследование с помощью атомно-силовой микроскопии структуры титана ВТ1-0, разрушенного при многоцикловой усталости после электронно-пучковой обработки / К. А. Осинцев, И. А. Комиссарова, С. В. Коновалов и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 159 p.
Аннотация: В данной работе было проведено исследование методами атомно-силовой и оптической микроскопии образца титана ВТ1-0, подвергнутого разрушению при многоцикловой усталости и предварительно обработанного электронным пучком. Проведен анализ использования данных методов при изучении структуры материала.
In this paper, a study was conducted by atomic force and optical microscopy of titanium VT1-0 sample subjected to degradation at high cycle fatigue and pre-treated by the electron beam. The analysis of the use of these methods in the study of the structure of the material was performed.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104202
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке: Работа выполнена при финансовой поддержке государственного задания (номер заявки 3.1283.2017/ПЧ) и гранта РФФИ (проект № 16-43-700659-р_сибирь_а).
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_092.pdf426,09 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.