Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104202
Title: Исследование с помощью атомно-силовой микроскопии структуры титана ВТ1-0, разрушенного при многоцикловой усталости после электронно-пучковой обработки
Other Titles: AFM investigation of titanium VT1-0 structure destroyed during multicyclic fatigue after electron-beam treatment
Authors: Осинцев, К. А.
Комиссарова, И. А.
Коновалов, С. В.
Иванов, Ю. Ф.
Osintsev, K. A.
Komissarova, I. A.
Konovalov, S. V.
Ivanov, Yu. F.
Issue Date: 2017
Publisher: Ural Federal University
Citation: Исследование с помощью атомно-силовой микроскопии структуры титана ВТ1-0, разрушенного при многоцикловой усталости после электронно-пучковой обработки / К. А. Осинцев, И. А. Комиссарова, С. В. Коновалов и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 159 p.
Abstract: В данной работе было проведено исследование методами атомно-силовой и оптической микроскопии образца титана ВТ1-0, подвергнутого разрушению при многоцикловой усталости и предварительно обработанного электронным пучком. Проведен анализ использования данных методов при изучении структуры материала.
In this paper, a study was conducted by atomic force and optical microscopy of titanium VT1-0 sample subjected to degradation at high cycle fatigue and pre-treated by the electron beam. The analysis of the use of these methods in the study of the structure of the material was performed.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104202
Conference name: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
metadata.dc.description.sponsorship: Работа выполнена при финансовой поддержке государственного задания (номер заявки 3.1283.2017/ПЧ) и гранта РФФИ (проект № 16-43-700659-р_сибирь_а).
Origin: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-0-7_2017_092.pdf426,09 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.