Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104180
Название: | Применение АСМ для исследования шероховатости элементов изображающей оптики |
Другие названия: | Application of AFM for the investigation the roughness of imaging optics elements |
Авторы: | Зорина, М. В. Пестов, А. Е. Чхало, Н .И. Zorina, M. V. Pestov, A. E. Chkhalo, N. I. |
Дата публикации: | 2017 |
Издатель: | Ural Federal University |
Библиографическое описание: | Зорина М. В. Применение АСМ для исследования шероховатости элементов изображающей оптики / М. В. Зорина, А. Е. Пестов, Н .И. Чхало // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 122 p. |
Аннотация: | Обсуждается специфика применения атомно-силовой микроскопии (АСМ) для измерения шероховатости изображающих оптических элементов. Описывается стенд на основе АСМ для измерения образцов сложной формы с большими латеральными размерами и методика измерений. The features of the application of atomic force microscopy for measuring the roughness of imaging optical elements are discussed. A stand on the basis of AFM for measuring samples of complex shape with large lateral dimensions and a measurement method is described. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104180 |
Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-0-7_2017_072.pdf | 416,44 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.