Применение АСМ для исследования шероховатости элементов изображающей оптики

Зорина, М. В.; Пестов,  А. Е.; Чхало, Н .И.; Zorina, M. V.; Pestov, A. E.; Chkhalo, N. I.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104180

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Зорина, М. В.	ru
dc.contributor.author	Пестов, А. Е.	ru
dc.contributor.author	Чхало, Н .И.	ru
dc.contributor.author	Zorina, M. V.	en
dc.contributor.author	Pestov, A. E.	en
dc.contributor.author	Chkhalo, N. I.	en
dc.date.accessioned	2021-09-20T13:51:41Z	-
dc.date.available	2021-09-20T13:51:41Z	-
dc.date.issued	2017	-
dc.identifier.citation	Зорина М. В. Применение АСМ для исследования шероховатости элементов изображающей оптики / М. В. Зорина, А. Е. Пестов, Н .И. Чхало // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 122 p.	ru
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-0-7	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104180	-
dc.description.abstract	Обсуждается специфика применения атомно-силовой микроскопии (АСМ) для измерения шероховатости изображающих оптических элементов. Описывается стенд на основе АСМ для измерения образцов сложной формы с большими латеральными размерами и методика измерений.	ru
dc.description.abstract	The features of the application of atomic force microscopy for measuring the roughness of imaging optical elements are discussed. A stand on the basis of AFM for measuring samples of complex shape with large lateral dimensions and a measurement method is described.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017	ru
dc.title	Применение АСМ для исследования шероховатости элементов изображающей оптики	ru
dc.title.alternative	Application of AFM for the investigation the roughness of imaging optics elements	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"	en
dc.conference.date	27.08.2017-30.08.2017	-
local.description.firstpage	122	-
local.description.lastpage	123	-
local.description.order	P-09	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_072.pdf		416,44 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.