Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104049
Название: Определение модуля упругости и силы адгезии материалов методом атомно-силовой микроскопии с применением модифицированных зондов
Другие названия: Using atomic force microscopy with modified probes for determination modulus of elasticity and adhesion strength of the materials
Авторы: Мельникова, Г. Б.
Маханек, А. А.
Петровская, А. С.
Константинова, Е. Э.
Чижик, С. А.
Melnikova, G. B.
Makhanek, A. A.
Petrovskaya, A. S.
Кonstantinova, E. E.
Chizhik, S. A.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Определение модуля упругости и силы адгезии материалов методом атомно-силовой микроскопии с применением модифицированных зондов / Г. Б. Мельникова, А. А. Маханек, А. С. Петровская и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 179 p.
Аннотация: В работе представлены результаты расчета модуля упругости полидиметилсилоксана и мембран тромбоцитов, рассчитанные по модели Джонсона-Кенделла-Робертса и Герца на основании данных, полученных методом атомно-силовой микроскопии в различных режимах индентирования.
The results of calculation of elasticity modulus of polydimethylsiloxane and platelet membranes calculated by the Johnson-Kendell-Roberts and Hertz models are presented on the basis of data obtained by atomic force microscopy in various indentation regimes.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104049
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_104.pdf304,09 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.