Определение модуля упругости и силы адгезии материалов методом атомно-силовой микроскопии с применением модифицированных зондов

Мельникова, Г. Б.; Маханек, А. А.; Петровская, А. С.; Константинова, Е. Э.; Чижик, С. А.; Melnikova, G. B.; Makhanek, A. A.; Petrovskaya, A. S.; Кonstantinova, E. E.; Chizhik, S. A.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104049

Title:	Определение модуля упругости и силы адгезии материалов методом атомно-силовой микроскопии с применением модифицированных зондов
Other Titles:	Using atomic force microscopy with modified probes for determination modulus of elasticity and adhesion strength of the materials
Authors:	Мельникова, Г. Б. Маханек, А. А. Петровская, А. С. Константинова, Е. Э. Чижик, С. А. Melnikova, G. B. Makhanek, A. A. Petrovskaya, A. S. Кonstantinova, E. E. Chizhik, S. A.
Issue Date:	2017
Publisher:	Ural Federal University
Citation:	Определение модуля упругости и силы адгезии материалов методом атомно-силовой микроскопии с применением модифицированных зондов / Г. Б. Мельникова, А. А. Маханек, А. С. Петровская и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 179 p.
Abstract:	В работе представлены результаты расчета модуля упругости полидиметилсилоксана и мембран тромбоцитов, рассчитанные по модели Джонсона-Кенделла-Робертса и Герца на основании данных, полученных методом атомно-силовой микроскопии в различных режимах индентирования. The results of calculation of elasticity modulus of polydimethylsiloxane and platelet membranes calculated by the Johnson-Kendell-Roberts and Hertz models are presented on the basis of data obtained by atomic force microscopy in various indentation regimes.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104049
Conference name:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date:	27.08.2017-30.08.2017
ISBN:	978-5-9500624-0-7
Origin:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:	Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-9500624-0-7_2017_104.pdf		304,09 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar