ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104089| Название: | Применение методов СЗМ для изучения возможных пьезоэлектрических свойств мелкодисперсных фаз ЦТС |
| Другие названия: | The SPM methods application to the eventual piezoelectric properties of the PZT low-dispersed phases |
| Авторы: | Куприна, Ю. А. Бунин, М. А. Бунина, О. А. Kuprina, Yu. A. Bunin, M. A. Bunina, O. A. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Куприна Ю. А. Применение методов СЗМ для изучения возможных пьезоэлектрических свойств мелкодисперсных фаз ЦТС / Ю. А. Куприна, М. А. Бунин, О. А. Бунина // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 240-240 p. |
| Аннотация: | Методами KPFM и PFM измерены пьезоотклик (PR) и потенциал поверхности синтезированного при низкой температуре мелкодисперсного поликристаллического твердого раствора PbZr0.52Ti0.48O3. Показано, что PR обусловлен пьезосвойствами вещества, а не электрострикцией. The low-dispersed powders of solid solution PbZr0.52Ti0.48O3 were synthesizes at low temperature. Its electric potential and piezoresonce (PR) measured by the KPFM and PFM methods, proved the PR is caused by the piezoelectric properties and not the electrostriction. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104089 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Сведения о поддержке: | Работа выполнена при поддержке гранта РФФИ № 17-02-00616А. |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_140.pdf | 300,13 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.