Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104089
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКуприна, Ю. А.ru
dc.contributor.authorБунин, М. А.ru
dc.contributor.authorБунина, О. А.ru
dc.contributor.authorKuprina, Yu. A.en
dc.contributor.authorBunin, M. A.en
dc.contributor.authorBunina, O. A.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:29Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:29Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationКуприна Ю. А. Применение методов СЗМ для изучения возможных пьезоэлектрических свойств мелкодисперсных фаз ЦТС / Ю. А. Куприна, М. А. Бунин, О. А. Бунина // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 240-240 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104089-
dc.description.abstractМетодами KPFM и PFM измерены пьезоотклик (PR) и потенциал поверхности синтезированного при низкой температуре мелкодисперсного поликристаллического твердого раствора PbZr0.52Ti0.48O3. Показано, что PR обусловлен пьезосвойствами вещества, а не электрострикцией.ru
dc.description.abstractThe low-dispersed powders of solid solution PbZr0.52Ti0.48O3 were synthesizes at low temperature. Its electric potential and piezoresonce (PR) measured by the KPFM and PFM methods, proved the PR is caused by the piezoelectric properties and not the electrostriction.en
dc.description.sponsorshipРабота выполнена при поддержке гранта РФФИ № 17-02-00616А.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleПрименение методов СЗМ для изучения возможных пьезоэлектрических свойств мелкодисперсных фаз ЦТСru
dc.title.alternativeThe SPM methods application to the eventual piezoelectric properties of the PZT low-dispersed phasesen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage240-
local.description.lastpage240-
local.description.orderP-77-
local.fund.rffi17-02-00616-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_140.pdf300,13 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.