ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80718| Название: | Microstructure and piezoelectric response of AlN/SiC heterostructures grown on silicon substrates of different orientation |
| Авторы: | Senkevich, S. V. Sharofidinov, S. S. Kiselev, D. A. Pronin, I. P. Kukushkin, S. A. |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Microstructure and piezoelectric response of AlN/SiC heterostructures grown on silicon substrates of different orientation / S. V. Senkevich, S. S. Sharofidinov, D. A. Kiselev, I. P. Pronin, S. A. Kukushkin // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 194. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80718 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 26.08.2018-29.08.2018 |
| ISBN: | 978-5-9500624-1-4 |
| Сведения о поддержке: | The work was partly supported by the Ministry for Education and Science (Russian Federation) (Grant No 16.2811.2017/4.6). |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_139.pdf | 371,92 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.