Microstructure and piezoelectric response of AlN/SiC heterostructures grown on silicon substrates of different orientation

Senkevich, S. V.; Sharofidinov, S. S.; Kiselev, D. A.; Pronin, I. P.; Kukushkin, S. A.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80718

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Senkevich, S. V.	en
dc.contributor.author	Sharofidinov, S. S.	en
dc.contributor.author	Kiselev, D. A.	en
dc.contributor.author	Pronin, I. P.	en
dc.contributor.author	Kukushkin, S. A.	en
dc.date.accessioned	2020-03-24T06:59:26Z	-
dc.date.available	2020-03-24T06:59:26Z	-
dc.date.issued	2018	-
dc.identifier.citation	Microstructure and piezoelectric response of AlN/SiC heterostructures grown on silicon substrates of different orientation / S. V. Senkevich, S. S. Sharofidinov, D. A. Kiselev, I. P. Pronin, S. A. Kukushkin // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 194.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-1-4	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/80718	-
dc.description.sponsorship	The work was partly supported by the Ministry for Education and Science (Russian Federation) (Grant No 16.2811.2017/4.6).	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018	en
dc.title	Microstructure and piezoelectric response of AlN/SiC heterostructures grown on silicon substrates of different orientation	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"	en
dc.conference.date	26.08.2018-29.08.2018	-
local.description.firstpage	194	-
local.description.lastpage	194	-
local.description.order	P-80	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-1-4_2018_139.pdf		371,92 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.