ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104066| Название: | STM investigation of 2D alloys and compounds on Si(111) and Ge(111) surfaces |
| Авторы: | Saranin, A. A. Gruznev, D. V. Bondarenko, L. V. Matetskiy, A. V. Tupchaya, A. Y. Mihalyuk, A. N. Eremeev, S. V. Hsing, C. -R. Wei, C. -M. Ichinokura, S. Hobara, R. Takayama, A. Hasegawa, S. Zotov, A. V. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | STM investigation of 2D alloys and compounds on Si(111) and Ge(111) surfaces / A. A. Saranin, D. V. Gruznev, L. V. Bondarenko et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 22-22 p. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104066 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Сведения о поддержке: | The work was supported by the Russian Science Foundation (Grant 14-12-00479). |
| Карточка проекта РНФ: | 14-12-00479 |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_012.pdf | 150,25 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.