1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104066
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSaranin, A. A.en
dc.contributor.authorGruznev, D. V.en
dc.contributor.authorBondarenko, L. V.en
dc.contributor.authorMatetskiy, A. V.en
dc.contributor.authorTupchaya, A. Y.en
dc.contributor.authorMihalyuk, A. N.en
dc.contributor.authorEremeev, S. V.en
dc.contributor.authorHsing, C. -R.en
dc.contributor.authorWei, C. -M.en
dc.contributor.authorIchinokura, S.en
dc.contributor.authorHobara, R.en
dc.contributor.authorTakayama, A.en
dc.contributor.authorHasegawa, S.en
dc.contributor.authorZotov, A. V.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:25Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:25Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationSTM investigation of 2D alloys and compounds on Si(111) and Ge(111) surfaces / A. A. Saranin, D. V. Gruznev, L. V. Bondarenko et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 22-22 p.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104066-
dc.description.sponsorshipThe work was supported by the Russian Science Foundation (Grant 14-12-00479).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//14-12-00479en
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleSTM investigation of 2D alloys and compounds on Si(111) and Ge(111) surfacesen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage22-
local.description.lastpage22-
local.description.orderI-07-
local.fund.rsf14-12-00479-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_012.pdf150,25 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.