ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/83186| Название: | X-ray Diffraction Investigation of Sio2/Si Track Templates with Deposited Zn |
| Авторы: | Dauletbekova, A. Alzhanova, A. Akylbekov, A. Baubekova, G. |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Knowledge E |
| Библиографическое описание: | X-ray Diffraction Investigation of Sio2/Si Track Templates with Deposited Zn / A. Dauletbekova, A. Alzhanova, A. Akylbekov, G. Baubekova // Russian Forum of Young Scientists (RFYS) (Ekaterinburg, Russia, 27–28 April , 2017). – Dubai : Knowledge E, 2018. – KnE Engineering, 3 (5). – pp. 39-45. – DOI 10.18502/keg.v3i4.2223 |
| Аннотация: | Si/SiO2/Zn structures are fabricated by the track template synthesis. SEM and AFM images of the surface after electrochemical deposition of zinc were obtained. XRD analysis of the deposited samples showed the creation of zinc oxide nanocrystals with Miller indexes (200) at θ=62,30 and (201) at θ=69,50 (PDF#361451-etalon). |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/83186 |
| Условия доступа: | Creative Commons Attribution License |
| Текст лицензии: | https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| Конференция/семинар: | Russian Forum of Young Scientists (RFYS) |
| Дата конференции/семинара: | 27.04.2017-28.04.2017 |
| ISSN: | 2518-6841 |
| DOI: | 10.18502/keg.v3i4.2223 |
| Источники: | Russian Forum of Young Scientists (RFYS). — Ekaterinburg, 2018 |
| Располагается в коллекциях: | Междисциплинарные конференции, семинары, сборники |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 10.18502_keg.v3i4.2223.pdf | 6,78 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Лицензия на ресурс: Лицензия Creative Commons
