Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80824
Название: | Analysis of the conduction mechanism through InSb quantum dot by tunnel CVC method |
Авторы: | Gavrikov, M. V. Mikhailov, A. I. Kabanov, V. F. Glukhovskoy, E. G. |
Дата публикации: | 2018 |
Издатель: | Ural Federal University |
Библиографическое описание: | Analysis of the conduction mechanism through InSb quantum dot by tunnel CVC method / M. V. Gavrikov, A. I. Mikhailov, V. F. Kabanov, E. G. Glukhovskoy // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 120-121. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80824 |
Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" |
Дата конференции/семинара: | 26.08.2018-29.08.2018 |
ISBN: | 978-5-9500624-1-4 |
Сведения о поддержке: | This work was supported by grants from the Russian Foundation for Basic Research Projects No. 16-07-00093 and No. 16-07-00185. |
Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-1-4_2018_084.pdf | 294,3 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.