ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80824Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Gavrikov, M. V. | en |
| dc.contributor.author | Mikhailov, A. I. | en |
| dc.contributor.author | Kabanov, V. F. | en |
| dc.contributor.author | Glukhovskoy, E. G. | en |
| dc.date.accessioned | 2020-03-24T06:59:49Z | - |
| dc.date.available | 2020-03-24T06:59:49Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Analysis of the conduction mechanism through InSb quantum dot by tunnel CVC method / M. V. Gavrikov, A. I. Mikhailov, V. F. Kabanov, E. G. Glukhovskoy // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 120-121. | en |
| dc.identifier.isbn | 978-5-9500624-1-4 | - |
| dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80824 | - |
| dc.description.sponsorship | This work was supported by grants from the Russian Foundation for Basic Research Projects No. 16-07-00093 and No. 16-07-00185. | en |
| dc.format.mimetype | application/pdf | en |
| dc.language.iso | en | en |
| dc.publisher | Ural Federal University | en |
| dc.relation.ispartof | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 | en |
| dc.title | Analysis of the conduction mechanism through InSb quantum dot by tunnel CVC method | en |
| dc.type | Conference Paper | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
| dc.conference.name | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" | en |
| dc.conference.date | 26.08.2018-29.08.2018 | - |
| local.description.firstpage | 120 | - |
| local.description.lastpage | 121 | - |
| local.description.order | P-25 | - |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_084.pdf | 294,3 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.