Study of formation of high aspect GaAs structures based on the method of focused ion beams

Rezvan, A. A.; Klimin, V. S.; Solodovnik, M. S.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80716

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Rezvan, A. A.	en
dc.contributor.author	Klimin, V. S.	en
dc.contributor.author	Solodovnik, M. S.	en
dc.date.accessioned	2020-03-24T06:59:25Z	-
dc.date.available	2020-03-24T06:59:25Z	-
dc.date.issued	2018	-
dc.identifier.citation	Rezvan A. A. Study of formation of high aspect GaAs structures based on the method of focused ion beams / A. A. Rezvan, V. S. Klimin, M. S. Solodovnik // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 190-191.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-1-4	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/80716	-
dc.description.sponsorship	This work was supported by the Russian Science Foundation Grant No. 15-19-10006. The results were obtained using the equipment of the Research and Education Center and Center for Collective Use "Nanotechnologies" of Southern Federal University.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation	info:eu-repo/grantAgreement/RSF//15-19-10006	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018	en
dc.title	Study of formation of high aspect GaAs structures based on the method of focused ion beams	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"	en
dc.conference.date	26.08.2018-29.08.2018	-
local.description.firstpage	190	-
local.description.lastpage	191	-
local.description.order	P-78	-
local.fund.rsf	15-19-10006	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-1-4_2018_137.pdf		195,77 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.