Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80715
Название: Local anodic oxidation by the probe method as a surface modification method for nanoscale profiling
Авторы: Rezvan, A. A.
Klimin, V. S.
Дата публикации: 2018
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Rezvan A. A. Local anodic oxidation by the probe method as a surface modification method for nanoscale profiling / A. A. Rezvan, V. S. Klimin // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 188-189.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80715
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"
Дата конференции/семинара: 26.08.2018-29.08.2018
ISBN: 978-5-9500624-1-4
Сведения о поддержке: During the implementation of experimental studies, a technique for nanosized profiling of GaAs structures by a combination of local anodic oxidation and plasma chemical etching was developed and implemented. This work was carried out with support of the Southern Federal University (grant VnGr-07/2017-02). The results were obtained using the equipment of the Research and Education Center and Center for Collective Use "Nanotechnologies" of Southern Federal University.
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_136.pdf349,63 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.