1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/75473
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorKolosov, V. Y.en
dc.contributor.authorYushkov, A. A.en
dc.contributor.authorVeretennikov, L. M.en
dc.date.accessioned2019-07-22T06:46:25Z-
dc.date.available2019-07-22T06:46:25Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationKolosov V. Y. Recrystallization and investigation of bismuth thin films by means of electron beam in transmission electron microscope / V. Y. Kolosov, A. A. Yushkov, L. M. Veretennikov // Journal of Physics: Conference Series. — 2018. — Vol. 1115. — Iss. 3. — 32087.en
dc.identifier.issn1742-6588-
dc.identifier.otherhttps://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/1115/3/032087/pdfpdf
dc.identifier.other1good_DOI
dc.identifier.other2f8a2e66-73ee-49b8-a490-41db80348cd4pure_uuid
dc.identifier.otherhttp://www.scopus.com/inward/record.url?partnerID=8YFLogxK&scp=85058216525m
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/75473-
dc.description.abstractThin bismuth films obtained by vacuum deposition were recrystallized under electron beam of scanning electron microscope at 5 kV and examined in a transmission electron microscope at 200 kV. In recrystallized films, various microstructures were detected: single-crystal, polycrystalline and amorphous regions, more or less faceted grains, single crystals and untransparent drop-shaped particles. In the crystallized film, a strong internal bending of the crystal lattice is detected, up to 110 deg/μm. © Published under licence by IOP Publishing Ltd.en
dc.description.sponsorshipPartial support of project 3.6121.2017/8.9 (The Ministry of Education and Science of the Russian Federation) and Agreement No 02.A03.21.0006 (Act 211 Government of the Russian Federation) is acknowledged.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherInstitute of Physics Publishingen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.sourceJournal of Physics: Conference Seriesen
dc.subjectAMORPHOUS FILMSen
dc.subjectBISMUTHen
dc.subjectELECTRON BEAMSen
dc.subjectELECTRONSen
dc.subjectFLUXESen
dc.subjectRECRYSTALLIZATION (METALLURGY)en
dc.subjectSCANNING ELECTRON MICROSCOPYen
dc.subjectSINGLE CRYSTALSen
dc.subjectTHIN FILMSen
dc.subjectTRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPYen
dc.subjectAMORPHOUS REGIONSen
dc.subjectBISMUTH FILMen
dc.subjectBISMUTH THIN FILMSen
dc.subjectCRYSTALLIZED FILMSen
dc.subjectFACETED GRAINSen
dc.subjectINTERNAL BENDINGen
dc.subjectPOLYCRYSTALLINEen
dc.subjectSHAPED PARTICLESen
dc.subjectRADIATION EFFECTSen
dc.titleRecrystallization and investigation of bismuth thin films by means of electron beam in transmission electron microscopeen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects 2018, EFRE 2018en
dc.conference.date16 September 2018 through 22 September 2018-
dc.identifier.rsi38679204-
dc.identifier.doi10.1088/1742-6596/1115/3/032087-
dc.identifier.scopus85058216525-
local.affiliationUral Federal University, 51 Lenin Ave., Yekaterinburg, 620000, Russian Federationen
local.contributor.employeeКолосов Владимир Юрьевичru
local.contributor.employeeЮшков Антон Александровичru
local.contributor.employeeВеретенников Лев Михайловичru
local.issue3-
local.volume1115-
dc.identifier.wos000546577800129-
local.identifier.pure8424422-
local.description.order32087-
local.identifier.eid2-s2.0-85058216525-
local.identifier.wosWOS:000546577800129-
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
10.1088-1742-6596-1115-3-032087.pdf3,26 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.