ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Recrystallization and investigation of bismuth thin films by means of electron beam in transmission electron microscope | 233 |
Посещений по месяцам
| августа 2024 | сентября 2024 | октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Recrystallization and investigation of bismuth thin films by means of electron beam in transmission electron microscope | 2 | 0 | 8 | 6 | 8 | 4 | 0 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 10.1088-1742-6596-1115-3-032087.pdf | 246 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 162 |
| Россия | 30 |
| Германия | 9 |
| Франция | 4 |
| Китай | 3 |
| Финляндия | 3 |
| Вьетнам | 3 |
| Армения | 2 |
| Канада | 2 |
| Сингапур | 2 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Ashburn | 119 |
| Moscow | 17 |
| San Mateo | 4 |
| Hanoi | 3 |
| Yekaterinburg | 2 |
| Andover | 1 |
| Balashikha | 1 |
| Balezino | 1 |
| Des Moines | 1 |
| Gessate | 1 |