Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/72206
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorYakushev, M. V.en
dc.contributor.authorMaiello, P.en
dc.contributor.authorRaadik, T.en
dc.contributor.authorShaw, M. J.en
dc.contributor.authorEdwards, P. R.en
dc.contributor.authorKrustok, J.en
dc.contributor.authorMudryi, A. V.en
dc.contributor.authorForbes, I.en
dc.contributor.authorMartin, R. W.en
dc.contributor.authorЯкушев, М. В.ru
dc.date.accessioned2019-05-31T10:03:51Z-
dc.date.available2019-05-31T10:03:51Z-
dc.date.issued2014-
dc.identifier.citationInvestigation of the Structural, Optical and Electrical Properties of Cu3BiS3 Semiconducting Thin Films / M. V. Yakushev, P. Maiello, T. Raadik [et al.] // Energy Procedia. — 2014. — Vol. 60. — P. 166-172. — DOI: 10.1016/j.egypro.2014.12.359.en
dc.identifier.otherhttp://www.scopus.com/inward/record.url?partnerID=8YFLogxK&scp=84922355894m
dc.identifier.other1good_DOI
dc.identifier.otherf8354373-ebf7-4866-b1f8-5af14d4d81f6pure_uuid
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/72206-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.sourceEnergy Procediaen
dc.titleInvestigation of the Structural, Optical and Electrical Properties of Cu3BiS3 Semiconducting Thin Filmsen
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.identifier.doi10.1016/j.egypro.2014.12.359-
dc.identifier.scopus84922355894-
local.contributor.employeeЯкушев Михаил Васильевичru
local.description.firstpage166-
local.description.lastpage172-
local.volume60-
dc.identifier.wos000358685500025-
local.contributor.departmentФизико-технологический институтru
local.identifier.pure409080-
local.identifier.eid2-s2.0-84922355894-
local.identifier.wosWOS:000358685500025-
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
10.1016-j.egypro.2014.12.359.pdf613,61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.