ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Investigation of the Structural, Optical and Electrical Properties of Cu3BiS3 Semiconducting Thin Films | 203 |
Посещений по месяцам
| октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | марта 2025 | апреля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Investigation of the Structural, Optical and Electrical Properties of Cu3BiS3 Semiconducting Thin Films | 7 | 2 | 5 | 1 | 1 | 6 | 4 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 10.1016-j.egypro.2014.12.359.pdf | 230 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 137 |
| Россия | 32 |
| Германия | 8 |
| Франция | 4 |
| Сенегал | 4 |
| Сингапур | 3 |
| Вьетнам | 3 |
| Армения | 2 |
| Австралия | 1 |
| Беларусь | 1 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Ashburn | 108 |
| Moscow | 21 |
| Singapore | 3 |
| Andover | 2 |
| St Petersburg | 2 |
| Adelaide | 1 |
| Balashikha | 1 |
| Des Moines | 1 |
| Ketsch | 1 |
| Murom | 1 |