Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/51560
Название: | Self-trapping of the d-d charge transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescence |
Авторы: | Sokolov, V. I. Pustovarov, V. A. Churmanov, V. N. Ivanov, V. Yu. Gruzdev, N. B. Sokolov, P. S. Baranov, A. N. Moskvin, A. S. Пустоваров, В. А. |
Дата публикации: | 2012 |
Библиографическое описание: | Self-trapping of the d-d charge transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescence / V. I. Sokolov, V. A. Pustovarov, V. N. Churmanov, V. Yu. Ivanov, N. B. Gruzdev, P. S. Sokolov, A. N. Baranov, A. S. Moskvin // JETP Letters. — 2012. — Vol. 95. — № 10. — P. 528-533. |
Аннотация: | Soft X-ray (XUV) excitation did make it possible to avoid the predominant role of the surface effects in luminescence of NiO and revealed a bulk luminescence with a puzzling well isolated doublet of very narrow lines with close energies near 3. 3 eV which is assigned to recombination transitions in self-trapped d-d charge transfer (CT) excitons formed by coupled Jahn-Teller Ni + and Ni 3+ centers. The conclusion is supported both by a comparative analysis of the CT luminescence spectra for NiO and solid solutions Ni xZn 1 - xO, and by a comprehensive cluster model assignment of different p-d and d-d CT transitions, their relaxation channels. To the best of our knowledge, it is the first observation of the luminescence due to self-trapped d-d CT excitons. © 2012 Pleiades Publishing, Ltd. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/51560 |
Условия доступа: | info:eu-repo/semantics/restrictedAccess |
Идентификатор РИНЦ: | 20475097 |
Идентификатор SCOPUS: | 84864390747 |
Идентификатор WOS: | 000306950800007 |
Идентификатор PURE: | 1079637 |
ISSN: | 0021-3640 |
DOI: | 10.1134/S0021364012100116 |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
10.1134S0021364012100116_2012.pdf | 312,9 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.