Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/42796
Название: Рентгенофлуоресцентный анализ твёрдотельных плёнок и покрытий
Другие названия: X-ray fluorescence analysis of solid films and coverings
Авторы: Игнатова, Ю. А.
Еритенко, А. Н.
Ревенко, А. Г.
Цветянский, А. Л.
Ignatova, Y. A.
Yeritenko, A. N.
Revenko, A. G.
Tsvetyansky, A. L.
Дата публикации: 2011
Издатель: Уральский федеральный университет
Библиографическое описание: Рентгенофлуоресцентный анализ твёрдотельных плёнок и покрытий / Ю. А. Игнатова, А. Н. Еритенко, А. Г. Ревенко [и др.] // Аналитика и контроль. — 2011. — № 2. — С. 126-140.
Аннотация: В обзоре рассмотрены особенности применения рентгенофлуоресцентного метода анализа (РФА) для исследования химического состава и толщины плёнок и покрытий поверхностей. Рассмотрены случаи РФА покрытий поверхностей сложной конфигурации. Обсуждены варианты учёта взаимных влияний элементов и толщины покрытий для разнообразных материалов. Представлены примеры выполнения практического рентгенофлуоресцентного анализа.
This review presents the features of the application of X-ray fluorescence analysis to the study of a chemical composition and thickness of films and surface coatings. The cases of X-ray fluorescence analysis of coating surfaces of complex configurations are considered. The variants of taking into account the matrix effects and coating thickness for various materials are discussed. The examples of performance of conventional XRF analysis are given.
Ключевые слова: XRF
THIN-FILM MATERIALS
CHEMICAL COMPOSITION
THICKNESS
MATRIX EFFECTS
РФА
ТОНКОПЛЁНОЧНЫЕ МАТЕРИАЛЫ
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА И ТОЛЩИНЫ
УЧЁТ ВЗАИМНЫХ ВЛИЯНИЙ ЭЛЕМЕНТОВ
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/42796
ISSN: 2073-1442
Источники: Аналитика и контроль. 2011. № 2
Располагается в коллекциях:Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
aik_2011_02_126-140.pdf944,25 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.