1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Периодические и продолжающиеся издания
  4. Аналитика и контроль
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/42796
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorИгнатова, Ю. А.ru
dc.contributor.authorЕритенко, А. Н.ru
dc.contributor.authorРевенко, А. Г.ru
dc.contributor.authorЦветянский, А. Л.ru
dc.contributor.authorIgnatova, Y. A.en
dc.contributor.authorYeritenko, A. N.en
dc.contributor.authorRevenko, A. G.en
dc.contributor.authorTsvetyansky, A. L.en
dc.date.accessioned2016-11-20T07:33:55Z-
dc.date.available2016-11-20T07:33:55Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.citationРентгенофлуоресцентный анализ твёрдотельных плёнок и покрытий / Ю. А. Игнатова, А. Н. Еритенко, А. Г. Ревенко [и др.] // Аналитика и контроль. — 2011. — № 2. — С. 126-140.ru
dc.identifier.issn2073-1442-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/42796-
dc.description.abstractВ обзоре рассмотрены особенности применения рентгенофлуоресцентного метода анализа (РФА) для исследования химического состава и толщины плёнок и покрытий поверхностей. Рассмотрены случаи РФА покрытий поверхностей сложной конфигурации. Обсуждены варианты учёта взаимных влияний элементов и толщины покрытий для разнообразных материалов. Представлены примеры выполнения практического рентгенофлуоресцентного анализа.ru
dc.description.abstractThis review presents the features of the application of X-ray fluorescence analysis to the study of a chemical composition and thickness of films and surface coatings. The cases of X-ray fluorescence analysis of coating surfaces of complex configurations are considered. The variants of taking into account the matrix effects and coating thickness for various materials are discussed. The examples of performance of conventional XRF analysis are given.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУральский федеральный университетru
dc.relation.ispartofАналитика и контроль. 2011. № 2ru
dc.subjectXRFen
dc.subjectTHIN-FILM MATERIALSen
dc.subjectCHEMICAL COMPOSITIONen
dc.subjectTHICKNESSen
dc.subjectMATRIX EFFECTSen
dc.subjectРФАru
dc.subjectТОНКОПЛЁНОЧНЫЕ МАТЕРИАЛЫru
dc.subjectОПРЕДЕЛЕНИЕ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА И ТОЛЩИНЫru
dc.subjectУЧЁТ ВЗАИМНЫХ ВЛИЯНИЙ ЭЛЕМЕНТОВru
dc.titleРентгенофлуоресцентный анализ твёрдотельных плёнок и покрытийru
dc.title.alternativeX-ray fluorescence analysis of solid films and coveringsen
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
local.description.firstpage126-
local.description.lastpage140-
Располагается в коллекциях:Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
aik_2011_02_126-140.pdf944,25 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.