Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10995/42796
Title: Рентгенофлуоресцентный анализ твёрдотельных плёнок и покрытий
Other Titles: X-ray fluorescence analysis of solid films and coverings
Authors: Игнатова, Ю. А.
Еритенко, А. Н.
Ревенко, А. Г.
Цветянский, А. Л.
Ignatova, Y. A.
Yeritenko, A. N.
Revenko, A. G.
Tsvetyansky, A. L.
Issue Date: 2011
Publisher: Уральский федеральный университет
Citation: Рентгенофлуоресцентный анализ твёрдотельных плёнок и покрытий / Ю. А. Игнатова, А. Н. Еритенко, А. Г. Ревенко [и др.] // Аналитика и контроль. — 2011. — № 2. — С. 126-140.
Abstract: В обзоре рассмотрены особенности применения рентгенофлуоресцентного метода анализа (РФА) для исследования химического состава и толщины плёнок и покрытий поверхностей. Рассмотрены случаи РФА покрытий поверхностей сложной конфигурации. Обсуждены варианты учёта взаимных влияний элементов и толщины покрытий для разнообразных материалов. Представлены примеры выполнения практического рентгенофлуоресцентного анализа.
This review presents the features of the application of X-ray fluorescence analysis to the study of a chemical composition and thickness of films and surface coatings. The cases of X-ray fluorescence analysis of coating surfaces of complex configurations are considered. The variants of taking into account the matrix effects and coating thickness for various materials are discussed. The examples of performance of conventional XRF analysis are given.
Keywords: XRF
THIN-FILM MATERIALS
CHEMICAL COMPOSITION
THICKNESS
MATRIX EFFECTS
РФА
ТОНКОПЛЁНОЧНЫЕ МАТЕРИАЛЫ
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА И ТОЛЩИНЫ
УЧЁТ ВЗАИМНЫХ ВЛИЯНИЙ ЭЛЕМЕНТОВ
URI: http://hdl.handle.net/10995/42796
ISSN: 2073-1442
Origin: Аналитика и контроль. 2011. № 2
Appears in Collections:Аналитика и контроль

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
aik_2011_02_126-140.pdf944,25 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.