Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/27505
Название: | The reliability of soldered joints produced at a low temperature |
Авторы: | Shtennikov, V. N. Budai, B. T. |
Дата публикации: | 2013 |
Библиографическое описание: | Shtennikov V. N. The reliability of soldered joints produced at a low temperature / V. N. Shtennikov, B. T. Budai // Russian Journal of Nondestructive Testing. — 2013. — Vol. 49. — № 9. — P. 548-551. |
Аннотация: | Under severe service conditions of electronic instruments (at elevated temperatures and vibrations in electronic systems), failures in their operation frequently occur. Severe intrinsic thermal conditions of operating instruments may cause such failures. However, malfunctions in electronic devices may often be due to defects in soldered joints that were made at lowered temperatures. An approach is proposed that makes it possible to considerably improve the reliability of soldered joints. © 2013 Pleiades Publishing, Ltd. |
Ключевые слова: | DEFECT QUALITY SOLDERING IRON TEMPERATURE TESTING THERMAL CONDUCTIVITY COEFFICIENT ELECTRONIC DEVICE ELECTRONIC INSTRUMENTS ELECTRONIC SYSTEMS ELEVATED TEMPERATURE LOW TEMPERATURES SERVICE CONDITIONS THERMAL CONDITION THERMAL CONDUCTIVITY COEFFICIENT DEFECTS ELECTRONICS INDUSTRY IMAGE QUALITY SOLDERED JOINTS TEMPERATURE TESTING THERMAL CONDUCTIVITY |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/27505 |
Идентификатор SCOPUS: | 84891071506 |
Идентификатор WOS: | 000328282200010 |
Идентификатор PURE: | 877807 |
ISSN: | 1061-8309 |
DOI: | 10.1134/S1061830913090088 |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
scopus-2013-0650.pdf | 120,15 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.