1. Электронный научный архив УрФУ

Поиск


Текущие фильтры:

Очистить
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.

 | 
Результаты 1-10 из 20.
Найденные ресурсы:
Дата публикацииНазваниеАвторы
2015Octahedral conversion of a-SiO2 host matrix by pulsed ion implantationZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Skorikov, N. A.; von, Czarnowski, A.; Fitting, H. -J.
2015XPS and DFT study of Sn incorporation into ZnO and TiO2 host matrices by pulsed ion implantationZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Kim, S. S.; Cui, L.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.
2015Modification of titanium and titanium dioxide surfaces by ion implantation: Combined XPS and DFT studyBoukhvalov, D. W.; Korotin, D. M.; Efremov, A. V.; Kurmaev, E. Z.; Borchers, C.; Zhidkov, I. S.; Gunderov, D. V.; Valiev, R. Z.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.
2020Oxygen transport in Pr nickelates: Elucidation of atomic-scale featuresSadykov, V.; Pikalova, E.; Eremeev, N.; Shubin, A.; Zilberberg, I.; Prosvirin, I.; Sadovskaya, E.; Bukhtiyarov, A.
2016Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO 2Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Kim, S. S.; Zhidkov, I. S.
2015Characterization of TiAlSiON coatings deposited by plasma enhanced magnetron sputtering: XRD, XPS, and DFT studiesKamenetskih, A. S.; Kukharenko, A. I.; Kurmaev, E. Z.; Skorikov, N. A.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.; Chukin, A. V.; Zainullina, V. M.; Korotin, M. A.
2015Structural defects and electronic structure of N-ion implanted TiO 2 : Bulk versus thin filmZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Gavrilov, N. V.; Korotin, M. A.; Kim, S. S.
2015The characterization of Co-nanoparticles supported on grapheneBazylewski, P.; Boukhvalov, D. W.; Kukharenko, A. I.; Kurmaev, E. Z.; Hunt, A.; Moewes, A.; Lee, Y. H.; Cholakh, S. O.; Chang, G. S.
2019Surface Instability and Chemical Reactivity of ZrSiS and ZrSiSe Nodal-Line SemimetalsBoukhvalov, D. W.; Edla, R.; Cupolillo, A.; Fabio, V.; Sankar, R.; Zhu, Y.; Mao, Z.; Hu, J.; Torelli, P.; Chiarello, G.; Ottaviano, L.; Politano, A.
2020XPS evidence of degradation mechanism in CH3NH3PbI3 hybrid perovskiteZhidkov, I. S.; Poteryaev, A. I.; Kukharenko, A. I.; Finkelstein, L. D.; Cholakh, S. O.; Akbulatov, A. F.; Troshin, P. A.; Chueh, C. -C.; Kurmaev, E. Z.

Фильтр