Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/102355
Название: Characterization of TiAlSiON coatings deposited by plasma enhanced magnetron sputtering: XRD, XPS, and DFT studies
Авторы: Kamenetskih, A. S.
Kukharenko, A. I.
Kurmaev, E. Z.
Skorikov, N. A.
Gavrilov, N. V.
Cholakh, S. O.
Chukin, A. V.
Zainullina, V. M.
Korotin, M. A.
Дата публикации: 2015
Издатель: Elsevier
Библиографическое описание: Characterization of TiAlSiON coatings deposited by plasma enhanced magnetron sputtering: XRD, XPS, and DFT studies / A. S. Kamenetskih, A. I. Kukharenko, E. Z. Kurmaev, et al. — DOI 10.1016/j.surfcoat.2015.08.007 // Surface and Coatings Technology. — 2015. — Vol. 278. — P. 87-91.
Аннотация: The results of characterization of TiAlSiON hard coatings deposited on ferric-chromium AISI 430 stainless steel by plasma enhanced magnetron sputtering are presented. The coating with maximum hardness (of 43GPa) was obtained at the following optimal values of elemental concentrations: Si ~5at.%, Al ~15at.%, and Ti ~27at.%. The value of gaseous mixture (Ar-N2) pressure was of 0.13Pa and the value of partial pressure of oxygen (O2) was 1.3·10-3Pa. The X-ray diffraction (XRD) measurements showed the presence of Ti(Al)N. High-energy resolved XPS spectra of core levels revealed the formation of Ti-N, Ti-O-N, Si-N and Al-O-N bonds. Comparison of XPS valence band spectra with specially performed density functional theory calculations for disordered Ti0.5Al0.5N1-xOx (0≤x≤0.3) phases demonstrated that a Ti(Al)OxNy phase is formed on the surface of AISI430 steel upon the plasma enhanced magnetron sputtering, which can provide a good combination of high hardness and additional oxidation resistance of this material. © 2015 Elsevier B.V.
Ключевые слова: DENSITY FUNCTIONAL THEORY
ELECTRONIC STRUCTURE
MAGNETRON SPUTTERING
TIALON COATINGS
X-RAY PHOTOELECTRON SPECTRA
ALUMINUM
ALUMINUM COATINGS
ELECTRONIC STRUCTURE
HARD COATINGS
HARDNESS
MAGNETRON SPUTTERING
PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
STAINLESS STEEL
TITANIUM
X RAY DIFFRACTION
X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
AISI-430 STAINLESS STEELS
ELEMENTAL CONCENTRATIONS
GASEOUS MIXTURE
MAXIMUM HARDNESS
PARTIAL PRESSURE OF OXYGEN
PLASMA ENHANCED MAGNETRON SPUTTERING
VALENCE BAND SPECTRA
X RAY PHOTOELECTRON SPECTRA
DENSITY FUNCTIONAL THEORY
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/102355
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/openAccess
Идентификатор SCOPUS: 84941670773
Идентификатор PURE: 289406
4604c2cc-3883-462e-a1d3-4f5c3c2b2d34
ISSN: 2578972
DOI: 10.1016/j.surfcoat.2015.08.007
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2-s2.0-84941670773.pdf279,46 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.