Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/132173
Название: Domain kinetics during polarization reversal in 36? Y-cut congruent lithium niobate
Авторы: Neradovskaia, E. A.
Neradovskiy, M. M.
Esin, A. A.
Chuvakova, M. A.
Baldil, P.
De, Micheli, M. P.
Akhmatkhanov, A. R.
Forget, N.
Shur, V. Y.
Шур, В. Я.
Дата публикации: 2018
Издатель: Institute of Physics Publishing
Библиографическое описание: Neradovskiy, M. M., Esin, A. A., Chuvakova, M. A., Baldil, P., De Micheli, M. P., Akhmatkhanov, A. R., Forget, N., Shur, V. Y., & Neradovskaia, E. A. (2018). Domain kinetics during polarization reversal in 36? Y-cut congruent lithium niobate. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, 443(1), [012024]. https://doi.org/10.1088/1757-899X/443/1/012024
Аннотация: We present experimental study of domain kinetics in 36? Y-cut congruent lithium niobate during polarization reversal by increasing external electric field using liquid electrodes. The motion of the domain walls has been imaged on the Zs+ and Zs-polar surfaces of the crystal simultaneously. The linear dependence of the threshold field on the field rate has been revealed. The threshold field in low field rate limit has been estimated as 32.8 ? 0.3 kV/mm, which is lower than predicted value. The switching process for polarization reversal in the constant field has dramatically accelerated with increase of external electrical field above threshold. The new approach, which accelerates significantly the in situ study of 3D domain kinetics in CLN crystals, has been demonstrated. © 2018 Institute of Physics Publishing. All rights reserved.
Ключевые слова: DOMAIN WALLS
ELECTRIC FIELDS
HYDROPHOBICITY
KINETICS
LITHIUM
NIOBIUM COMPOUNDS
SCANNING PROBE MICROSCOPY
CONGRUENT LITHIUM NIOBATE
ELECTRICAL FIELD
EXTERNAL ELECTRIC FIELD
LINEAR DEPENDENCE
LIQUID ELECTRODES
POLARIZATION REVERSALS
SWITCHING PROCESS
THRESHOLD FIELDS
POLARIZATION
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/132173
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/openAccess
Конференция/семинар: International Conference on Scanning Probe Microscopy, SPM 2018
Дата конференции/семинара: 26 August 2018 through 29 August 2018
Идентификатор РИНЦ: 38624204
Идентификатор SCOPUS: 85057436463
Идентификатор PURE: 8322027
ISSN: 1757-8981
DOI: 10.1088/1757-899X/443/1/012024
Сведения о поддержке: et al.;NT-MDT Spectrum Instruments;Ostec-ArtTool Ltd.;Promenergolab LLC;Russian Foundation for Basic Research;Taylor and Francis Group
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2-s2.0-85057436463.pdf1,15 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.