Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104209
Title: Исследование коэффициента жесткости и собственных частот микрокантилеверов для колебательных методик АСМ
Other Titles: Research of the stiffness coefficient and frequency characteristics microcantilevers for the vibrational methods of AFM
Authors: Житяева, Ю. Ю.
Быков, А. В.
Jityaeva, J. Y.
Bykov, A. V.
Issue Date: 2017
Publisher: Ural Federal University
Citation: Житяева Ю. Ю. Исследование коэффициента жесткости и собственных частот микрокантилеверов для колебательных методик АСМ / Ю. Ю. Житяева, А. В. Быков // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 172-172 p.
Abstract: Исследовано влияние геометрических параметров кантилеверов из поликристаллического кремния прямоугольной и треугольной формы на нормальное отклонение и резонансную частоту. При изменении длины кантилеверов в диапазонах 60-300 и 50-200 мкм, толщины 0,5-2,5 мкм, сила прижима от 0,05 до 1,1 мкН амплитуда изменялась от 4 до 98 нм, а частота от 37-6907 кГц.
The influence of geometric parameters of polycrystalline silicon of I- and V- shapes cantilevers on the normal deflection and resonant frequency were investigation. The length of the cantilevers changed from 60 to 300 and 50-200 µm, thickness 0.5-2.5 µm, clamping force from 0.05 to 1.1 µH, amplitude varied from 4 to 98 nm, and the frequency from 37-6907 kHz.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104209
Conference name: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
metadata.dc.description.sponsorship: Работа выполнена с использованием инфраструктуры НОЦ «Нанотехнологии» ЮФУ.
Origin: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-0-7_2017_099.pdf278,44 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.