Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104209
Title: | Исследование коэффициента жесткости и собственных частот микрокантилеверов для колебательных методик АСМ |
Other Titles: | Research of the stiffness coefficient and frequency characteristics microcantilevers for the vibrational methods of AFM |
Authors: | Житяева, Ю. Ю. Быков, А. В. Jityaeva, J. Y. Bykov, A. V. |
Issue Date: | 2017 |
Publisher: | Ural Federal University |
Citation: | Житяева Ю. Ю. Исследование коэффициента жесткости и собственных частот микрокантилеверов для колебательных методик АСМ / Ю. Ю. Житяева, А. В. Быков // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 172-172 p. |
Abstract: | Исследовано влияние геометрических параметров кантилеверов из поликристаллического кремния прямоугольной и треугольной формы на нормальное отклонение и резонансную частоту. При изменении длины кантилеверов в диапазонах 60-300 и 50-200 мкм, толщины 0,5-2,5 мкм, сила прижима от 0,05 до 1,1 мкН амплитуда изменялась от 4 до 98 нм, а частота от 37-6907 кГц. The influence of geometric parameters of polycrystalline silicon of I- and V- shapes cantilevers on the normal deflection and resonant frequency were investigation. The length of the cantilevers changed from 60 to 300 and 50-200 µm, thickness 0.5-2.5 µm, clamping force from 0.05 to 1.1 µH, amplitude varied from 4 to 98 nm, and the frequency from 37-6907 kHz. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104209 |
Conference name: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
Conference date: | 27.08.2017-30.08.2017 |
ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
metadata.dc.description.sponsorship: | Работа выполнена с использованием инфраструктуры НОЦ «Нанотехнологии» ЮФУ. |
Origin: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
Appears in Collections: | Scanning Probe Microscopy |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-0-7_2017_099.pdf | 278,44 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.