Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104209
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЖитяева, Ю. Ю.ru
dc.contributor.authorБыков, А. В.ru
dc.contributor.authorJityaeva, J. Y.en
dc.contributor.authorBykov, A. V.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:45Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:45Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationЖитяева Ю. Ю. Исследование коэффициента жесткости и собственных частот микрокантилеверов для колебательных методик АСМ / Ю. Ю. Житяева, А. В. Быков // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 172-172 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104209-
dc.description.abstractИсследовано влияние геометрических параметров кантилеверов из поликристаллического кремния прямоугольной и треугольной формы на нормальное отклонение и резонансную частоту. При изменении длины кантилеверов в диапазонах 60-300 и 50-200 мкм, толщины 0,5-2,5 мкм, сила прижима от 0,05 до 1,1 мкН амплитуда изменялась от 4 до 98 нм, а частота от 37-6907 кГц.ru
dc.description.abstractThe influence of geometric parameters of polycrystalline silicon of I- and V- shapes cantilevers on the normal deflection and resonant frequency were investigation. The length of the cantilevers changed from 60 to 300 and 50-200 µm, thickness 0.5-2.5 µm, clamping force from 0.05 to 1.1 µH, amplitude varied from 4 to 98 nm, and the frequency from 37-6907 kHz.en
dc.description.sponsorshipРабота выполнена с использованием инфраструктуры НОЦ «Нанотехнологии» ЮФУ.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleИсследование коэффициента жесткости и собственных частот микрокантилеверов для колебательных методик АСМru
dc.title.alternativeResearch of the stiffness coefficient and frequency characteristics microcantilevers for the vibrational methods of AFMen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage172-
local.description.lastpage172-
local.description.orderP-36-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_099.pdf278,44 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.