ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104150| Название: | Dielectric relaxation and charged domain walls in (K,Na)NbO3-based ferroelectric ceramics |
| Авторы: | Alikin, D. O. Esin, A. A. Turygin, A. P. Abramov, A. S. Hrescak, J. Walker, J. Rojac, T. Bencan, A. Malic, B. Kholkin, A. L. Shur, V. Ya. Шур, В. Я. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Dielectric relaxation and charged domain walls in (K,Na)NbO3-based ferroelectric ceramics / D. O. Alikin, A. A. Esin, A. P. Turygin et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 75 p. |
| Аннотация: | We report on the evidence of significant contribution of charged domain walls to low frequency dielectric permittivity in KNN ferroelectric ceramics in the frequency range 10-106 Hz. The effect has been attributed to the Maxwell-Wagner-Sillars relaxation. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104150 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Сведения о поддержке: | The equipment of the Ural Center for Shared Use "Modern nanotechnology" UrFU was used. |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_045.pdf | 276,2 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.