1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104150
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorAlikin, D. O.en
dc.contributor.authorEsin, A. A.en
dc.contributor.authorTurygin, A. P.en
dc.contributor.authorAbramov, A. S.en
dc.contributor.authorHrescak, J.en
dc.contributor.authorWalker, J.en
dc.contributor.authorRojac, T.en
dc.contributor.authorBencan, A.en
dc.contributor.authorMalic, B.en
dc.contributor.authorKholkin, A. L.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:38Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:38Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationDielectric relaxation and charged domain walls in (K,Na)NbO3-based ferroelectric ceramics / D. O. Alikin, A. A. Esin, A. P. Turygin et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 75 p.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104150-
dc.description.abstractWe report on the evidence of significant contribution of charged domain walls to low frequency dielectric permittivity in KNN ferroelectric ceramics in the frequency range 10-106 Hz. The effect has been attributed to the Maxwell-Wagner-Sillars relaxation.en
dc.description.sponsorshipThe equipment of the Ural Center for Shared Use "Modern nanotechnology" UrFU was used.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleDielectric relaxation and charged domain walls in (K,Na)NbO3-based ferroelectric ceramicsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage75-
local.description.lastpage76-
local.description.orderO-26-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_045.pdf276,2 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.