Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104135
Title: | Атомно-силовые микроскопы компании Park Systems |
Other Titles: | Park Systems Atomic Force Microscopes (AFM) |
Authors: | Бутяйкин, С. В. Чебуркин, В. В. Butiaikin, S. V. Cheburkin, V. V. |
Issue Date: | 2017 |
Publisher: | Ural Federal University |
Citation: | Бутяйкин С. В. Атомно-силовые микроскопы компании Park Systems / С. В. Бутяйкин, В. В. Чебуркин // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 54 p. |
Abstract: | Компания Park Systems – это один из лидеров в области атомно-силовой микроскопии. Их оборудование вобрало в себя самые передовые технологии и почти 30-летний опыт работы в данной сфере. Park Systems представляет два типа АСМ: лабораторного уровня и промышленного уровня. В обоих типах систем используется одинаковая технология производства и элементная база. Наиболее популярными и широко распространенными являются микроскопы лабораторного уровня серии NX. Флагманами данной серии являются АСМ NX10 и NX20 (для анализа малых (до 50 мм) и больших (до 200 мм) образцов соответственно). Park Systems is a global nanometrology equipment company focused on the development, production and sale of the atomic force microscopy systems. This equipment has incorporated the most advanced technology and 20 years’ experience in this field. Park Systems offers a wide number of AFMs that can be used for different jobs: research grade AFMs and industrial grade AFMs. In both types of systems the same production technology and element base are used. The most popular and widespread are the research grade microscopes of the NX series. The flagships of this series are NX10 and NX20 AFMs (for analysis of small (up to 50 mm) and large (up to 200 mm) samples, respectively). |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104135 |
Conference name: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
Conference date: | 27.08.2017-30.08.2017 |
ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
Origin: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
Appears in Collections: | Scanning Probe Microscopy |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-0-7_2017_031.pdf | 305,33 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.