Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104135
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorБутяйкин, С. В.ru
dc.contributor.authorЧебуркин, В. В.ru
dc.contributor.authorButiaikin, S. V.en
dc.contributor.authorCheburkin, V. V.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:36Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:36Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationБутяйкин С. В. Атомно-силовые микроскопы компании Park Systems / С. В. Бутяйкин, В. В. Чебуркин // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 54 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104135-
dc.description.abstractКомпания Park Systems – это один из лидеров в области атомно-силовой микроскопии. Их оборудование вобрало в себя самые передовые технологии и почти 30-летний опыт работы в данной сфере. Park Systems представляет два типа АСМ: лабораторного уровня и промышленного уровня. В обоих типах систем используется одинаковая технология производства и элементная база. Наиболее популярными и широко распространенными являются микроскопы лабораторного уровня серии NX. Флагманами данной серии являются АСМ NX10 и NX20 (для анализа малых (до 50 мм) и больших (до 200 мм) образцов соответственно).ru
dc.description.abstractPark Systems is a global nanometrology equipment company focused on the development, production and sale of the atomic force microscopy systems. This equipment has incorporated the most advanced technology and 20 years’ experience in this field. Park Systems offers a wide number of AFMs that can be used for different jobs: research grade AFMs and industrial grade AFMs. In both types of systems the same production technology and element base are used. The most popular and widespread are the research grade microscopes of the NX series. The flagships of this series are NX10 and NX20 AFMs (for analysis of small (up to 50 mm) and large (up to 200 mm) samples, respectively).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleАтомно-силовые микроскопы компании Park Systemsru
dc.title.alternativePark Systems Atomic Force Microscopes (AFM)en
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage54-
local.description.lastpage55-
local.description.orderO-12-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_031.pdf305,33 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.