Исследование естественно униполярного и полярного состояния в тонких пленках ЦТС при изменением содержания свинца

Осипов, В. В.; Каптелов, Е. Ю.; Сенкевич, С. В.; Киселев,  Д. А.; Пронин, И. П.; Osipov, V. V.; Kaptelov, E. Yu.; Senkevich, S. V.; Kiselev, D. A.; Pronin, I. P.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104093

Title:	Исследование естественно униполярного и полярного состояния в тонких пленках ЦТС при изменением содержания свинца
Other Titles:	Investigation of the unipolar and polarized thin PZT films under variation of lead excess
Authors:	Осипов, В. В. Каптелов, Е. Ю. Сенкевич, С. В. Киселев, Д. А. Пронин, И. П. Osipov, V. V. Kaptelov, E. Yu. Senkevich, S. V. Kiselev, D. A. Pronin, I. P.
Issue Date:	2017
Publisher:	Ural Federal University
Citation:	Исследование естественно униполярного и полярного состояния в тонких пленках ЦТС при изменением содержания свинца / В. В. Осипов, Е. Ю. Каптелов, С. В. Сенкевич и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 246-246 p.
Abstract:	Целью данной работы является исследование методом атомно-силовой микроскопии естественно униполярных и поляризованных в сильном электрическом поле тонких пленок Pb(Zr,Ti)O3 при варьировании сверх стехиометрического содержания свинца в твердых растворах. The aim of the work is to study the self-poled and polarized thin Pb(Zr,Ti)O3 films under variation of over stoichiometric content lead using piezoelectric force microscopy.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104093
Conference name:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date:	27.08.2017-30.08.2017
ISBN:	978-5-9500624-0-7
Origin:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:	Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-9500624-0-7_2017_144.pdf		317,72 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record