Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104093
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorОсипов, В. В.ru
dc.contributor.authorКаптелов, Е. Ю.ru
dc.contributor.authorСенкевич, С. В.ru
dc.contributor.authorКиселев, Д. А.ru
dc.contributor.authorПронин, И. П.ru
dc.contributor.authorOsipov, V. V.en
dc.contributor.authorKaptelov, E. Yu.en
dc.contributor.authorSenkevich, S. V.en
dc.contributor.authorKiselev, D. A.en
dc.contributor.authorPronin, I. P.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:30Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:30Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationИсследование естественно униполярного и полярного состояния в тонких пленках ЦТС при изменением содержания свинца / В. В. Осипов, Е. Ю. Каптелов, С. В. Сенкевич и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 246-246 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104093-
dc.description.abstractЦелью данной работы является исследование методом атомно-силовой микроскопии естественно униполярных и поляризованных в сильном электрическом поле тонких пленок Pb(Zr,Ti)O3 при варьировании сверх стехиометрического содержания свинца в твердых растворах.ru
dc.description.abstractThe aim of the work is to study the self-poled and polarized thin Pb(Zr,Ti)O3 films under variation of over stoichiometric content lead using piezoelectric force microscopy.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleИсследование естественно униполярного и полярного состояния в тонких пленках ЦТС при изменением содержания свинцаru
dc.title.alternativeInvestigation of the unipolar and polarized thin PZT films under variation of lead excessen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage246-
local.description.lastpage246-
local.description.orderP-81-
Appears in Collections:Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-0-7_2017_144.pdf317,72 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.