Контроль параметров бислойного полиэлектролитного покрытия методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии

Abstract

В работе исследовалось бислойное покрытие полиэтиленимин/глюкозооксидаза на поверхности Si/SiO2 методом Кельвин-зонд силовой микроскопии (КЗСМ). При помощи КЗСМ удалось определить влияние освещения и типа проводимости Si на количество адсорбированных молекул GOx.

The bilayer coating of polyethyleneimine/glucose oxidase on the Si/SiO2 surface was studied by Kelvin probe force microscopy (KPFM). Using KPFM, the influence of illumination and a silicon substrate conductivity type on the number of adsorbed GOx molecules was determined.