Контроль параметров бислойного полиэлектролитного покрытия методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии

Козловский, A. В.; Стецюра, С. В.; Kozlowski, A. V.; Stetsyura, S. V.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104045

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Козловский, A. В.	ru
dc.contributor.author	Стецюра, С. В.	ru
dc.contributor.author	Kozlowski, A. V.	en
dc.contributor.author	Stetsyura, S. V.	en
dc.date.accessioned	2021-09-20T13:51:22Z	-
dc.date.available	2021-09-20T13:51:22Z	-
dc.date.issued	2017	-
dc.identifier.citation	Козловский A. В. Контроль параметров бислойного полиэлектролитного покрытия методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии / A. В. Козловский, С. В. Стецюра // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 173 p.	ru
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-0-7	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104045	-
dc.description.abstract	В работе исследовалось бислойное покрытие полиэтиленимин/глюкозооксидаза на поверхности Si/SiO2 методом Кельвин-зонд силовой микроскопии (КЗСМ). При помощи КЗСМ удалось определить влияние освещения и типа проводимости Si на количество адсорбированных молекул GOx.	ru
dc.description.abstract	The bilayer coating of polyethyleneimine/glucose oxidase on the Si/SiO2 surface was studied by Kelvin probe force microscopy (KPFM). Using KPFM, the influence of illumination and a silicon substrate conductivity type on the number of adsorbed GOx molecules was determined.	en
dc.description.sponsorship	Исследования проведены при поддержке РФФИ (проект № 16-08-00524_а).	ru
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017	ru
dc.title	Контроль параметров бислойного полиэлектролитного покрытия методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии	ru
dc.title.alternative	Control of bilayer polyelectrolyte coating parameters using the Kelvin probe microscopy	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"	en
dc.conference.date	27.08.2017-30.08.2017	-
local.description.firstpage	173	-
local.description.lastpage	174	-
local.description.order	P-37	-
local.fund.rffi	16-08-00524	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_100.pdf		323,02 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.