ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104045| Название: | Контроль параметров бислойного полиэлектролитного покрытия методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии |
| Другие названия: | Control of bilayer polyelectrolyte coating parameters using the Kelvin probe microscopy |
| Авторы: | Козловский, A. В. Стецюра, С. В. Kozlowski, A. V. Stetsyura, S. V. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Козловский A. В. Контроль параметров бислойного полиэлектролитного покрытия методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии / A. В. Козловский, С. В. Стецюра // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 173 p. |
| Аннотация: | В работе исследовалось бислойное покрытие полиэтиленимин/глюкозооксидаза на поверхности Si/SiO2 методом Кельвин-зонд силовой микроскопии (КЗСМ). При помощи КЗСМ удалось определить влияние освещения и типа проводимости Si на количество адсорбированных молекул GOx. The bilayer coating of polyethyleneimine/glucose oxidase on the Si/SiO2 surface was studied by Kelvin probe force microscopy (KPFM). Using KPFM, the influence of illumination and a silicon substrate conductivity type on the number of adsorbed GOx molecules was determined. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104045 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Сведения о поддержке: | Исследования проведены при поддержке РФФИ (проект № 16-08-00524_а). |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_100.pdf | 323,02 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.