Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/102627
Название: Field ion microscopy of radiation damage on an atomically clean surface of materials
Авторы: Ivchenko, V. A.
Дата публикации: 2021
Издатель: IOP Publishing Ltd
Библиографическое описание: Ivchenko V. A. Field ion microscopy of radiation damage on an atomically clean surface of materials / V. A. Ivchenko. — DOI 10.1088/1742-6596/1799/1/012011 // Journal of Physics: Conference Series. — 2021. — Vol. 1799. — Iss. 1. — 012011.
Аннотация: The defects induced by neutrons (E >0.1 MeV) and Ar+ beams (E = 30 KeV) on the atomically pure surface and in the near-surface volume of platinum were studied using field ion microscopy. Experimental results of radiation defect formation in surface layers of materials initiated by neutron bombardment (Pt, E > 0.1 MeV) and ion implantation (in Cu3Au: E = 40 keV, F = 1020 ion/m2, j = 10~3 A/cm2) are considered. Quantitative estimates of the size, shape, and volume fraction of atomic displacement cascades formed during various types of irradiation in these materials are obtained. It is shown that the average size of radiation clusters after irradiation of platinum with a fast neutron fluence of 6.7« 1022 m-2 (E > 0.1 MeV) is about 3.2 nm. The experimentally established average size of a radiation cluster (disordered zone) in an alloy after ion bombardment is 4 • 4 • 1,5 nm. © Published under licence by IOP Publishing Ltd.
Ключевые слова: ION BOMBARDMENT
ION MICROSCOPES
PLATINUM
RADIATION DAMAGE
ATOMIC DISPLACEMENT
CLEAN SURFACES
DEFECTS INDUCED
FAST NEUTRON FLUENCE
FIELD ION MICROSCOPY
NEUTRON BOMBARDMENTS
QUANTITATIVE ESTIMATES
RADIATION DEFECTS
NEUTRON IRRADIATION
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/102627
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/openAccess
Идентификатор SCOPUS: 85103175561
Идентификатор PURE: 21179812
d2432b83-4b6e-4b18-b65b-feb24b1805fe
ISSN: 17426588
DOI: 10.1088/1742-6596/1799/1/012011
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2-s2.0-85103175561.pdf832,24 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.