Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/101828
Название: | Charge puddles in germanene |
Авторы: | Yao, Q. Jiao, Z. Bampoulis, P. Zhang, L. Rudenko, A. N. Katsnelson, M. I. Zandvliet, H. J. W. |
Дата публикации: | 2019 |
Издатель: | American Institute of Physics Inc. |
Библиографическое описание: | Charge puddles in germanene / Q. Yao, Z. Jiao, P. Bampoulis, et al. — DOI 10.1063/1.5085304 // Applied Physics Letters. — 2019. — Vol. 114. — Iss. 4. — 041601. |
Аннотация: | We report an investigation of the electronic inhomogeneities in a single germanene layer grown on a molybdenum disulfide (MoS 2 ) substrate. Using scanning tunneling microscopy and spectroscopy, we have recorded spatial maps of the Dirac point of germanene. The Dirac point maps reveal the presence of charge puddles in the germanene sheet. The Dirac point varies from -30 meV to +15 meV, corresponding to a charge density in the puddles in the range of 2.6 × 10 -3 electrons to 6.6 × 10 -4 holes per nm 2 . The radius of these puddles is about 10-20 nm, resulting in a total charge of the order of one charge carrier per puddle. The defect concentration in the top layer of the MoS 2 substrate is very comparable to the density of charge puddles, suggesting that the charge puddles are caused by the charged defects in the top layer of the MoS 2 substrate. © 2019 Author(s). |
Ключевые слова: | DEFECTS LAYERED SEMICONDUCTORS MOLYBDENUM COMPOUNDS SCANNING TUNNELING MICROSCOPY SUBSTRATES CHARGED DEFECTS DEFECT CONCENTRATIONS DENSITY OF CHARGES INHOMOGENEITIES MOLYBDENUM DISULFIDE SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY SPATIAL MAPS TOTAL CHARGE SULFUR COMPOUNDS |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/101828 |
Условия доступа: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Идентификатор SCOPUS: | 85060791998 |
Идентификатор WOS: | 000457527500008 |
Идентификатор PURE: | 76f89725-f08a-4a65-9da7-5f1ec526c7b2 8863144 |
ISSN: | 36951 |
DOI: | 10.1063/1.5085304 |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
2-s2.0-85060791998.pdf | 1,17 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.