Skip navigation
Главная
Просмотреть
Разделы
и коллекции
Посмотреть:
По дате
По автору
По заглавию
По тематике
Источники
Справка
Язык
English
русский
Зарегистрированным:
Авторизация
Обновления на e-mail
Редактировать профиль
Авторам
ISSN:
2310-757X
Электронный научный архив УрФУ
Просмотр коллекции по группе - По автору Rezvan, A. A.
Перейти к:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
или введите несколько первых букв:
Сортировка:
по заглавию
по дате публикации
по дате сохранения
Упорядочить:
по возрастанию
по убыванию
Вывести на страницу:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Авторы:
все
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Отображение результатов 3 до 5 из 5
< назад
Дата публикации
Название
Авторы
2018
Local anodic oxidation by the probe method as a surface modification method for nanoscale profiling
Rezvan, A. A.
;
Klimin, V. S.
2018
Masking layer formation on silicon substrate by the focused ion beams method for plasma-chemical treatment
Kots, I. N.
;
Klimin, V. S.
;
Rezvan, A. A.
;
Polyakova, V. V.
;
Ageev, O. A.
2018
Study of formation of high aspect GaAs structures based on the method of focused ion beams
Rezvan, A. A.
;
Klimin, V. S.
;
Solodovnik, M. S.