Skip navigation
Главная
Просмотреть
Разделы
и коллекции
Посмотреть:
По дате
По автору
По заглавию
По тематике
Источники
Справка
Язык
English
русский
Зарегистрированным:
Авторизация
Обновления на e-mail
Редактировать профиль
Авторам
ISSN:
2310-757X
Электронный научный архив УрФУ
Поиск
Поиск:
Весь архив электронных ресурсов
00. Общеуниверситетские коллекции
01. Высшая инженерная школа
02. Институт экономики и управления
03. Зональная научная библиотека
04. Военный учебный центр
06. Уральский гуманитарный институт
07. Институт естественных наук и математики
09. Институт материаловедения и металлургии
10. Институт радиоэлектроники и информационных технологий - РТФ
12. Институт физической культуры, спорта и молодежной политики
13. Институт фундаментального образования
14. Механико-машиностроительный институт
15. Наукометрическая лаборатория
15. Нижнетагильский технологический институт (филиал)
16. Политехнический институт (филиал) в г. Каменске-Уральском
17. Специализированный учебно-научный центр УрФУ
18. Институт строительства и архитектуры
19. Уральский энергетический институт
20. Физико-технологический институт
21. Химико-технологический институт
22. Тематические коллекции
запрос
Текущие фильтры:
По заглавию
По автору
По тематике
По дате
Равно
Содержит
Идентификатор
Не равно
Не содержит
Не идентификатор
По заглавию
По автору
По тематике
По дате
Равно
Содержит
Идентификатор
Не равно
Не содержит
Не идентификатор
По заглавию
По автору
По тематике
По дате
Равно
Содержит
Идентификатор
Не равно
Не содержит
Не идентификатор
Очистить
Добавить фильтры:
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
По заглавию
По автору
По тематике
По дате
Равно
Содержит
Идентификатор
Не равно
Не содержит
Не идентификатор
Результаты 1-2 из 2.
назад
1
дальше
Найденные ресурсы:
Дата публикации
Название
Авторы
2016
Thickness effect on the structure, grain size, and local piezoresponse of self-polarized lead lanthanum zirconate titanate thin films
Melo, M.
;
Araújo, E. B.
;
Shvartsman, V. V.
;
Shur, V. Y.
;
Kholkin, A. L.
;
Шур, В. Я.
2017
Physical properties and reentrant behavior in PLZT thin films
Melo, M.
;
Araujo, E. B.
;
Neradovskaya, E. A.
;
Turygin, A. P.
;
Esin, A. A.
;
Shur, V. Y.
;
Kholkin, A. L.
;
Шур, В. Я.
Фильтр
По автору
2
Kholkin, A. L.
2
Shur, V. Y.
1
Araujo, E. B.
1
Araújo, E. B.
1
Esin, A. A.
1
Neradovskaya, E. A.
1
Shvartsman, V. V.
1
Turygin, A. P.
По тематике
2
ELECTRIC FIELDS
2
FERROELECTRIC CERAMICS
2
SCANNING PROBE MICROSCOPY
2
SEMICONDUCTING LEAD COMPOUNDS
2
THIN FILMS
1
AUTOCORRELATION
1
AUTOCORRELATION FUNCTIONS
1
CORRELATION LENGTHS
1
CRYSTALLITE SIZE
1
DIPOLE GLASS
.
Вперед >
По дате
1
2017
1
2016