ISSN: 2310-757X
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/99534| Title: | Изучение структуры низкоразмерных материалов методом анализа СЭМ изображений |
| Other Titles: | THE STRUCTURE INVESTIGATION OF NANOSCALE MATERIALS BY THE SEM IMAGE ANALYSIS METHOD |
| Authors: | Рябинина, М. В. Звонарев, С. В. |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | УрФУ |
| Citation: | Рябинина М. В. Изучение структуры низкоразмерных материалов методом анализа СЭМ изображений / М. В. Рябинина, С. В. Звонарев // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 93-94. |
| Abstract: | The analysis method of SEM images is approved. The opportunity to investigate the material structure with different particle sizes is shown. The SEM image analysis method provides sufficient information about the surface structure of the material needed for the production of materials with improved properties. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/99534 |
| Conference name: | III Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации» |
| Conference date: | 16.05.2016-20.05.2016 |
| Origin: | Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016 |
| Appears in Collections: | Конференции, семинары |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2016_046.pdf | 352,68 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.